分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字萬(wàn)用表、電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過(guò)程既復雜又耗時(shí)，又占用過(guò)多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作，有更大的不確定性及更慢的總線(xiàn)傳輸速度等缺點(diǎn)。 實(shí)施半導體分立器件特性參數分析的Z佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統，支持四象限工作。半導體特性測試儀IV曲線(xiàn)掃描儀認準普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作          

內置強大的功能軟件，加速用戶(hù)完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線(xiàn)性?huà)呙?、指數掃描及用?hù)自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數

S系列源表應用

分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽(yáng)能、電池、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線(xiàn)等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統；
功率器件：靜態(tài)測試系統；
電流傳感器：動(dòng)靜態(tài)參數測試系統；

更多有關(guān)半導體特性測試儀IV曲線(xiàn)掃描儀的信息找普賽斯儀表專(zhuān)員為您解答，武漢普賽斯是國內Z早生產(chǎn)源表的廠(chǎng)家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)已經(jīng)過(guò)了市場(chǎng)的考驗、市面有近500臺源表在使用；普賽斯儀表特色：高電流、高電壓測試，3500V電壓下可測量pA級漏電流，1000A脈沖電流源15us的超快上升沿。