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半導體功率測試設備-高電壓大電流

 
 
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發(fā)貨 湖北武漢江夏區付款后3天內
品牌 普賽斯儀表
集電極-發(fā)射極 最大電壓 8000V
集電極-發(fā)射極 最大電流 6000A
漏電流測試范圍 1nA~100mA
更新 2024-11-22 09:24
手機號:18140663476
 
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武漢普賽斯儀表有限公司

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  • 王承 (女士)   市場(chǎng)專(zhuān)員
產(chǎn)品詳細

靜態(tài)特性測試挑戰


隨著(zhù)半導體制程工藝不斷提升,測試和驗證也變得更加重要。通常,主要的功率半導體器件特性分為靜態(tài)特性、動(dòng)態(tài)特性、開(kāi)關(guān)特性。靜態(tài)參數特性主要是表征器件本征特性指標,與工作條件無(wú)關(guān)的相關(guān)參數,如很多功率器件的的靜態(tài)直流參數(如擊穿電壓、漏電流、閾值電壓、跨導、壓降、導通內阻)等。


功率半導體器件是一種復合全控型電壓驅動(dòng)式器件,兼有高輸入阻抗和低導通壓降兩方面的優(yōu)點(diǎn):同時(shí)半導體功率器件的芯片屬于電力電子芯片,需要工作在大電流、高電壓、高頻率的環(huán)境下,對芯片的可靠性要求較高,這給測試帶來(lái)了一定的困難。市面上傳統的測量技術(shù)或者儀器儀表一般可以覆蓋器件特性的測試需求,但是寬禁帶半導體器件SiC(碳化硅)或GaN(氮化鎵)的技術(shù)卻極大擴展了高壓、高速的分布區間。如何精確表征功率器件高流/高壓下的I-V曲線(xiàn)或其它靜態(tài)特性,這就對器件的測試工具提出更為嚴苛的挑戰。


面臨挑戰.jpg


更高精度更高產(chǎn)量


并聯(lián)應用要求測試精度提離,確保一致性


終端市場(chǎng)需求量大,要求測試效率提高,UPH提升



更寬泛的測試能力

更寬的測試范圍、更強的測試能力


更大的體二極管導通電壓


更低的比導通電阻


提供更豐富的溫度控制方式




更科學(xué)的測試方法


掃描模式對閾值電壓漂移的影響


高壓低噪聲隔離電源的實(shí)現


高壓小電流測量技術(shù)、高壓線(xiàn)性功放的研究


低電感回路實(shí)現




柔性化測試能力


兼容多種模塊封裝形式


方便更換測試夾具


靈活配置,滿(mǎn)足不同測試需求



PMST系列半導體功率測試設備是武漢普賽斯正向設計,精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統,是一致能夠提供IV,CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統,具有高精度、寬測量范圍、模塊化設計、輕松升級擴展等優(yōu)勢,旨在全面滿(mǎn)足從基礎功率二極管、MOSFET.  BJT、 IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數表征和測試,并具有著(zhù)越的測量效率、一致性與可靠性。讓任何工程師使用它都能變成行業(yè)專(zhuān)家。


針對用戶(hù)不同測試場(chǎng)景的使用需求,普賽斯全新推出PMST功率器件靜態(tài)參數測試系統、PMST-MP功率器件靜態(tài)參數半自動(dòng)化測試系統、PMST-AP功率器件靜態(tài)參數全自動(dòng)化測試系統三款功事器件靜態(tài)參數測試系統。詳詢(xún)一八一四零六六三四七六;


靜態(tài)測試系統新.png


從實(shí)驗室到小批量、大批量產(chǎn)線(xiàn)的全覆蓋

從Si IGBT. SiC MOS到GaN     HEMT的全國蓋

從晶圓、芯片、器件、模塊到PM的全覆蓋


 產(chǎn)品特點(diǎn)


 高電壓、大電流


 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(蕞大可擴展至10kV)


 具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯(lián))


 高精度測量


  納安漏電流,  μΩ級導通電阻


  0.1%精度測量


  模塊化配置


  可根據實(shí)際測試需要靈活配置多種測量單元系統預留升級空間,后期可添加或升級測量單元


  測試效率高


  內置專(zhuān)用開(kāi)關(guān)矩陣,根據測試項目自動(dòng)切換電路與測量單元


  支持國標全指標的一鍵測試


  擴展性好


  支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具


硬件特色與性能優(yōu)勢


大電流輸出響應快,無(wú)過(guò)沖


采用自主開(kāi)發(fā)的高性能脈沖式大電流源、高壓源,輸出建立過(guò)程響應快、無(wú)過(guò)沖。測試過(guò)程中,大電流典型上升時(shí)間為15us,脈寬在50-500μs之間可調。采用脈沖大電流的測試方式,可有效降低器件因自身發(fā)熱帶來(lái)的誤差。


高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式


采用自主開(kāi)發(fā)的高性能高壓源,輸出建立與斷開(kāi)響應快、無(wú)過(guò)沖。在擊穿電壓測試中,可設定電流限制或者電壓限值,防止器件因過(guò)壓或過(guò)流導致?lián)p壞。

PMST訂貨信息.jpg


半導體功率測試設備測試項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
續流二極管壓降Vf
I-V特性曲線(xiàn)掃描,C-V特性曲線(xiàn)掃描等

快采購網(wǎng)供應商武漢普賽斯儀表有限公司供應半導體功率測試設備-高電壓大電流,為您提供詳細的產(chǎn)品報價(jià)、參數、圖片等商品信息,本產(chǎn)品在2024-11-22 09:24更新,主要更新內容為:產(chǎn)品類(lèi)別,聯(lián)系方式,產(chǎn)品參數,產(chǎn)品價(jià)格,產(chǎn)品圖片信息。如需進(jìn)一步了解半導體功率測試設備-高電壓大電流,請與廠(chǎng)家直接聯(lián)系,請在聯(lián)系時(shí)說(shuō)明是在快采購網(wǎng)網(wǎng)看到這條商機的。
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