wat半導體參數測試設備+晶圓片檢測儀測試項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
續流二極管壓降Vf
I-V特性曲線(xiàn)掃描，C-V特性曲線(xiàn)掃描等；詳詢(xún)18140663476

PMST系列功率器件靜態(tài)參數測試系統是武漢普賽斯正向設計、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統，是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設計、輕松升級擴展等優(yōu)勢，旨在全面滿(mǎn)足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數表征和測試，并具有優(yōu)秀的測量效率、一致性與可靠性。讓任何工程師使用它都能變成行業(yè)專(zhuān)家。

針對用戶(hù)不同測試場(chǎng)景的使用需求，普賽斯全新推出PMST功率器件靜態(tài)參數測試系統、PMST-MP功率器件靜態(tài)參數產(chǎn)線(xiàn)半自動(dòng)化測試系統、PMST-AP功率器件靜態(tài)參數產(chǎn)線(xiàn)全自動(dòng)化測試系統三款功率器件靜態(tài)參數測試系統。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1、高電壓、大電流

具有高電壓測量/輸出能力，電壓高達3500V（蕞大可擴展至10kV）

具有大電流測量/輸出能力，電流高達6000A（多模塊并聯(lián)）

2、高精度測量

nA級漏電流，μΩ級導通電阻 

0.1％精度測量 

四線(xiàn)制測試

3、模塊化配置

可根據實(shí)際測試需要靈活配置多種測量單元

系統預留升級空間，后期可添加或升級測量單元

4、測試效率高

內置專(zhuān)用開(kāi)關(guān)矩陣，根據測試項目自動(dòng)切換電路與測量單元 

支持國標全指標的一鍵測試

5、軟件功能豐富

上位機自帶器件標準參數測試項目模板，可直接調取使用

支持曲線(xiàn)繪制

自動(dòng)保存測試數據，并支持EXCEL格式導出

開(kāi)放的標準SCPI指令集，可與第三方系統集成

6、擴展性好

支持常溫及低溫、高溫測試

可靈活定制各種夾具

可與探針臺，溫箱等第三方設備聯(lián)動(dòng)使用