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半導體分立器件測試儀+IV曲線(xiàn)掃描設備

 
 
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發(fā)貨 湖北武漢江夏區付款后3天內
品牌 普賽斯儀表
測試范圍 ±90uV-±300V/±30pA-±3A
測試精度 0.03%
工作環(huán)境 25±10℃
更新 2024-10-11 10:24
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武漢普賽斯儀表有限公司

普通會(huì )員第2年
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  • 王承 (女士)   市場(chǎng)專(zhuān)員
產(chǎn)品詳細

半導體分立器件是指以半導體材料為基礎的單一元件,包括各種半導體材料制成的二極管、三極管、場(chǎng)效應管、可控硅等,具有整流、放大、開(kāi)關(guān)、檢波,穩壓、信號調制等多種功能,衡量晶體管性能好壞主要是通過(guò)I-V測試或C-V測試來(lái)提取晶體管的基本特性參數,并在整個(gè)工藝結束后評估器件的優(yōu)劣。    

半導體分立器件特性參數測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應;通常半導體分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成,如數字表、電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析,過(guò)程既復雜又耗時(shí),還占用過(guò)多測試臺的空間。而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定度及更慢的總線(xiàn)傳輸速度等缺點(diǎn)。

實(shí)施特性參數分析的Z佳工具之一是數字源表(SMU)。普賽斯歷時(shí)多年打造了高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、率先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體??勺鳛楠毩⒌暮銐涸椿蚝懔髟?、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統,支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線(xiàn)跟蹤儀、半導體參數分析儀或示波器是否熟悉,都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結果。

普賽斯“五合一”高精度數字源表


 

普賽斯源表輕松實(shí)現二極管特性參數分析       

二極管是一種使用半導體材料制作而成的單向導 電性元器件,產(chǎn)品結構一般為單個(gè)PN結結構,只允許        電流從單一方向流過(guò)。發(fā)展至今,已陸續發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復二極管、PIN二極管、光電   二極管等,具有安全可靠等特性,廣泛應用于整流、穩壓、保護等電路中,是電子工程上用途Z廣泛的電子元器件之一。IV特性是表征半導體二極管PN結制備性能的主要參數之一,二極管IV特性主要指正向特性和反向特性等;


普賽斯S系列、P系列源表簡(jiǎn)化場(chǎng)效應MOS管I-V特性分析  

MOSFET(金屬—氧化物半導體場(chǎng)效應晶體管)是      一種利用電場(chǎng)效應來(lái)控制其電流大小的常見(jiàn)半導體器件,可以廣泛應用在模擬電路和數字電路當中,MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳納米管       等材料制作,是材料及器件研究的熱點(diǎn)。主要參數有輸入/輸出特性曲線(xiàn)、閾值電壓 VGS(th)、漏電流IGSS、         IDSS,擊穿電壓VDSS、低頻互導gm、輸出電阻RDS等。

三極管符號.png

普賽斯數字源表快速、準確進(jìn)行三極管BJT特性分析

三極管是半導體基本元器件之一,具有電流放大作用,是電子電路的核心元件。三極管是在一塊半導體    基片上制作兩個(gè)相距很近的PN結,兩個(gè)PN結把整塊 半導體分成三部分,中間部分是基區,兩側部分是發(fā)射    區和集電區。設計電路中常常會(huì )關(guān)注的參數有電流放大系數β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極Z大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線(xiàn)等參數。 

MOS管剖面圖.png

普賽斯五合一高精度數字源表(SMU)在半導體IV特性測試方面擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗,為半導體分立器件電性能參數測試提供全面的解決方案,包括二極管、MOS管、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等。此外,普賽斯儀表還提供適當的電纜輔件和測試夾具,實(shí)現安全、精確和可靠的測試。欲了解更多半導體分立器件測試儀+IV曲線(xiàn)掃描設備的信息,歡迎隨時(shí)來(lái)電咨詢(xún)普賽斯儀表!詳詢(xún)一八一四零六六三四七六;


分立器件測試圖.jpg

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