半導體分立器件泛指二極管、三極管等具有單一功能的半導體元器件，用于電力電子設備的整流、穩壓、開(kāi)關(guān)、混頻等電路中，是構成電力電子變化裝置的核心器件之一，在消費電子、汽車(chē)電子、電子儀器儀表、工業(yè)及自動(dòng)化控制、計算機及周邊設備、網(wǎng)絡(luò )通訊等眾多國民經(jīng)濟領(lǐng)域均有廣泛的應用。半導體分立器件市場(chǎng)前景廣闊，根據基材不同，半導體分立器件可分為不同類(lèi)型，以硅基半導體為基材時(shí)，半導體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場(chǎng)效應晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極性晶體管(IGBT)等產(chǎn)品，以寬禁帶材料半導體為基材時(shí)，半導體分立器件主要包括：SiC,GaN半導體功率器件。從需求端來(lái)看，分立器件受益于新能源、汽車(chē)電子、5G通訊射頻等市場(chǎng)的發(fā)展，具有較大的發(fā)展前景。直流3A+半導體參數分析儀認準生產(chǎn)廠(chǎng)家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；普賽斯五合一高精度數字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具，接線(xiàn)簡(jiǎn)單、方便操作。

 普賽斯“五合一”高精度數字源表

分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字萬(wàn)用表、     電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過(guò)程既復雜又耗時(shí)，又占用過(guò)多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作，有更大的不確定性及更慢的總線(xiàn)傳輸速度等缺點(diǎn)。    實(shí)施半導體分立器件特性參數分析的Z佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器、  波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統，支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設計工程    師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線(xiàn)跟蹤儀、半導體參數分析儀或示波器是否熟悉，都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結果。