LED必須在合適的電流電壓驅動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱(chēng)為I-V特性。通過(guò)對LED電特性的測試，可以獲得對應正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數，以及相應的I-V曲線(xiàn)。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據客戶(hù)要求，搭配相應的光學(xué)測試系統，測試相應的光學(xué)性能。led漏電流測試精密源表認準普賽斯儀表。

（典型二極管I-V特性曲線(xiàn)）                                    （LED光電測試系統示意圖）

Vf正向導通電壓測試

正向導通電壓，是LED在正常工作電流下測量的電壓值。當加載在LED兩端的工作電壓，低于導通電壓時(shí)，通過(guò)LED的電流極小，不發(fā)光。當電壓超過(guò)該值后，通過(guò)LED的電流隨電壓迅速增加，而后LED發(fā)光。常用測試方法為，將LED的正極接在高電位端，負極接在低電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時(shí)測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以?xún)龋?。而后根據?shí)際測試需要，對數據進(jìn)行分析，得到相應的Vf值。

Vr 反向擊穿電壓測試

反向擊穿電壓，是所允許加載在LED兩端的Z大反向電壓。當二極管兩端的反向電壓超過(guò)Vr后，反向電流會(huì )急劇增大，二極管將失去單方向導電特性，這種狀態(tài)稱(chēng)為二極管的擊穿。若長(cháng)時(shí)間工作電壓超過(guò)Vr，發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時(shí)測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以?xún)龋?。而后根據?shí)際測試需要，對數據進(jìn)行分析，得到相應的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時(shí)，無(wú)需將接線(xiàn)端反接。源表內部會(huì )自動(dòng)根據設定值，切換輸出端的極性。

Ir漏電流測試

漏電流，指LED處于反向偏置狀態(tài)時(shí)，流過(guò)二極管的微弱反向電流。此時(shí)，LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，而后根據實(shí)際測試需要，設定加載在LED兩端的電壓，測量電流Ir。

繪制LED I-V特性曲線(xiàn)測試

連接

如下圖所示，選擇合適的夾具，將LED與S型源表進(jìn)行連接

（源表測試連接示意圖）

S型源表簡(jiǎn)介

普賽斯S系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品Z大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，分辨率低至10pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應用于各種半導體器件I-V電特性測試，如半導體IC，功率半導體器件，傳感器，LED等。產(chǎn)品具有如下特點(diǎn)：

• 采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡(jiǎn)單方便

• 內置豐富的掃描模式，支持線(xiàn)性?huà)呙?、指數掃描及用?hù)自定義掃描

• 四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作

• 支持USB存儲，一鍵導出測試報告

• 兼容多種上位機通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

• 可搭配普賽斯自主開(kāi)發(fā)的上位機軟件使用，快速實(shí)現不同器件的測試