半導體電性能測試應用的專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域十分廣泛，分別有：微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學(xué)與工程、材料與能源、電子科學(xué)與工程、光電信息與能源工程等等等...

數字源表作為電學(xué)測量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗室內幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專(zhuān)業(yè)軟件即可實(shí)現各種定制測量，使用非常廣泛。 S型數字源表在一個(gè)半機架尺寸的儀器中結合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載等功能，這些測試功能，令S型觸摸屏數字源表具有I-V特性測試系統、曲線(xiàn)追蹤儀和半導體分析儀的各種測試能力，而成本更低廉。

iv測試儀+半導體分立器件I-V曲線(xiàn)掃描儀都有哪些應用呢？

實(shí)驗篇

在實(shí)際應用中，不同專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域所進(jìn)行的電性能測試實(shí)驗是不同的，下面就來(lái)展示一些典型的實(shí)驗現象。

I-V特性測試

電流電壓我都要，性能測試有一套！

C-V特性測試

輸入/輸出特性測試

輸入特性曲線(xiàn)

輸出特性曲線(xiàn)

反向擊穿電壓測試

講到這里，小編還是要說(shuō)一句，半導體電性能測試實(shí)驗遠遠不止這些，在各種實(shí)驗項目中,多功能數字源表不可缺。

普賽斯儀表專(zhuān)注于半導體電性能測試領(lǐng)域，基于高精度數字源表綜合實(shí)驗平臺，可提供多種實(shí)驗測量環(huán)境，搭配豐富的測試夾具及實(shí)驗器材，滿(mǎn)足半導體電性能測試需求，提高測試效率。

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