光電探測器光電測試

  光電探測器一般需要先對晶圓進(jìn)行測試,封裝后再對器件進(jìn)行二次測試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測器在工作時(shí),需要施加反向偏置電壓來(lái)拉開(kāi)光注入產(chǎn)生的電子空穴對,從而完成光生載流子過(guò)程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作;測試時(shí)比較關(guān)注暗電流、反向擊穿電壓、結電容、響應度、串擾等參數。

利用數字源表進(jìn)行光電探測器光電性能表征

  實(shí)施光電性能參數表征分析的Z佳工具之一是數字源表(SMU)。數字源表作為獨立的電壓源或電流源,可輸出恒壓、恒流、或者脈沖信號,還可以當作表,進(jìn)行電壓或者電流測量;支持Trig觸發(fā),可實(shí)現多臺儀表聯(lián)動(dòng)工作;針對光電探測器單個(gè)樣品測試以及多樣品驗證測試,可直接通過(guò)單臺數字源表、多臺數字源表或插卡式源表搭建完整的測試方案。

 光電探測器電性能測試數字源表高精度I-V曲線(xiàn)掃描認準生產(chǎn)廠(chǎng)家武漢普賽斯儀表，武漢普賽斯一直專(zhuān)注于半導體的電性能測試儀表開(kāi)發(fā),基于核心算法和系統集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢,帥先自主研發(fā)了高精度數字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表等產(chǎn)品,廣泛應用在半導體器件材料的分析測試領(lǐng)域。能夠根據用戶(hù)的需求搭配出Z高效、Z具性?xún)r(jià)比的半導體測試方案。

選擇普賽斯儀表的理由

武漢普賽斯是國內蕞早生產(chǎn)源表的廠(chǎng)家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)已經(jīng)過(guò)了市場(chǎng)的考驗、市面有近500臺源表在使用，市場(chǎng)應用率高

普賽斯儀表特色：高電流、高電壓測試，3500V電壓下可測量nA級漏電流，1000A脈沖電流源15us的超快上升沿。